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YP-150I目視檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：1280
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測量儀
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：3382
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測量儀
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：2437
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測量儀
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：1185
日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 光學(xué)測量儀
日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1214
日本sena硅玻璃表面異物檢查燈185LE 光學(xué)測量儀
日本sena硅玻璃表面異物檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1043
日本sena玻璃表面劃痕檢查燈185le 光學(xué)測量儀
日本sena玻璃表面劃痕檢查燈185le 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1009
日本sena晶圓表面清潔度檢查燈185LE 光學(xué)測量儀
日本sena晶圓表面清潔度檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1051
日本sena電子行業(yè)用檢查燈185LE 光學(xué)測量儀
日本sena電子行業(yè)用檢查燈185LE 光學(xué)測量儀 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：991
日本sena電子行業(yè)用鹵素?zé)?85LE 光學(xué)測量儀
日本sena電子行業(yè)用鹵素?zé)?85LE 光學(xué)測量儀 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
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日本sena表面檢查用鹵素?zé)?85LE 光學(xué)測量儀
日本sena表面檢查用鹵素?zé)?85LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
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日本mcrl透光度霧度計HM-150N 光學(xué)測量儀
日本mcrl透光度霧度計HM-150N 霧度計可消除光源的偏振特性，并*地減少儀器誤差！
更新日期：2024-03-24 訪問量：1276
日本mcrl霧度計反射率計HM-150N 光學(xué)測量儀
日本mcrl霧度計反射率計HM-150N 霧度計可消除光源的偏振特性，并*地減少儀器誤差！
更新日期：2024-03-24 訪問量：1437
日本bunkoukeiki單色儀M50 光學(xué)測量儀
日本bunkoukeiki單色儀M50 高分辨率單色儀，焦距為500mm，波長為200nm至25μm。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1180
日本bunkoukeiki單色儀M25 光學(xué)測量儀
日本bunkoukeiki單色儀M25 緊湊、輕便、明亮、高分辨率的單色儀，焦距為 250mm。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1323
